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Artículo técnico

Mayo de 2016

79

www.read-eurowire.com

Craig Girdwood and

Andrew McCloskey

Taymer International Inc

Markham, Ontario

Canada

Tel

: +1 905 479 2614

Email

:

craig.girdwood@taymer.com

Website

:

www.taymer.com

3.3 Limitaciones

El sistema de inspección de la envoltura

tiene pocas limitaciones:

• A veces hay tipos de envoltura muy

distintos que requieren ajustes en la

configuración óptica o cambios del

software.

• Dado que la cámara enfoca a la

superficie, las gotas de agua, la grasa

y las partículas de polvo pueden ser

detectadas como defectos por el

sistema.

Generalmente,

esto

se

puede

resolver con un sistema de limpieza

con chorro de aire bien colocado.

Como alternativa, se puede reducir

la sensibilidad del sistema, pero en

este caso los defectos más pequeños

pueden pasar a través del filtro

3.4 Resultados de las pruebas

El sistema de inspección de los defectos

de la envoltura es una versión modifi-

cada

del

sistema

de

inspección

superficial

utilizado

en

numerosas

líneas de producción en todo el mundo

para detectar defectos superficiales en

alambres y cables.

Algunas imágenes de muestra de los

defectos y de las mediciones de la

envoltura se pueden ver en las

Figuras

de

1

a

6

.

4 Conclusiones

Con un sistema de inspección de los

defectos de la envoltura, se detectarán

las imperfecciones de la superficie

del cable envuelto y envolver el cable

correctamente con la posibilidad de

controlar la distancia y el ángulo de

superposición.

El sistema presenta varias ventajas:

• Es adecuado para cualquier tipo de

alambre/cable envuelto y blindajes

corrugados.

• Asegura que el cliente no reciba

productos defectuosos, mejorando la

relación y confianza del cliente.

• Reduce la necesidad de procesar de

nuevo los cables y evita los derroches

de cable que suponen costes de

material y mano de obra.

• Ayuda a mejorar el proceso de

producción interno para reducir los

defectos.

• Asegura la superposición del cable.

n

Este documento es presentado por cortesía

del 64° Simposio Técnico IWCS, Atlanta,

Georgia,

EE.UU

., noviembre de 2015