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www.read-wca.comWire & Cable ASIA – July/August 2017
Sikora AG
Bruchweide 2,
28307 Bremen,
德国
电话
:
+49 421 489 000
电子邮件
:
sales@sikora.net网址
:
www.sikora.net❍
图
5
:
脱机检查与分析系统
(
Fe
)。铁原子核内有
26
个质子。所述
26
个质子的
X
射线衰减
比来自碳的
6
个质子的衰减高得多，这使得
X
射线图像中的两
种材料之间产生了完美的对比。
光学技术
在光学检查中，光照起着至关重要的作用。我们通过现代摄
影技术(光学、红外、彩色照相机)实现了用工业速度精确记
录材料流。我们使用类似于用于
X
射线检查的图像处理软件来
检测光学系统的污染。通过设定一定的阈值，从而分离在数
学算法中高于阈值的所有污染颗粒。
X
射线和光学技术检测到的典型污染物
X
射线技术和光学技术的结合使我们能够检测到颗粒内部和
其表面上的污染(图
4
)。
X
射线系统检测透明和有色(例如黑
色)颗粒以及用于杂质的半导体
XLPE
材料。用
X
射线检测的典
型杂质是金属，以及颗粒内的有机污染物和不同质二氧化钛
(
TiO
2
)。此外，光学系统可检测例如颗粒、异物和颗粒上的
黑点以及其它有机或金属污染物。
生产线上的整合系统
该系统通常安装在从
XLPE
进料斗和
HPTE
供应器(纸箱、袋或
料仓)和挤出机的料斗之间，原料通过重力进料。
在线和离线检查，分析颗粒、
薄片和胶带/薄膜
除了在线检查和分选设备之外，还有模块化设计的系统可
用于粒状、片状和胶带/薄膜的在线和离线检查和分析。这
些系统可用于少量生产以及有足够样品进行测试的生产线
或者用于进货控制。根据应用情况，系统选配备
X
射线技术
(
X
)、红外技术(
IR
)或光学传感器(
V
)，用于直径
50μm
的
污染物的生产或样品测试。例如，具有
X
射线技术的实验室
检查和分析设备(图
5
)可以检查放置在托盘上的多达
3,000
个颗粒(
200ml
)。这些颗粒的污染检查在几秒钟内完成。
随后，受污染的颗粒在屏幕上突出显示，这使得单独污染物
的提取更加容易。
对于综合过程的优化，电缆制造商将在线检查、分选系统与
脱机检查、分析设备相结合。一旦检测出污染的颗粒并整理
出来，实验室系统再次检查这些颗粒，并以光刻的方式标记
污染物，以便容易地分离所有废料。在线和离线检查和分析
的这种交互能够控制材料纯度，并创建数据库以防止将来的
污染。
结论
总结，本文概述了
MV
和
EHV
电缆绝缘需要使用高纯度
XLPE
和
HPTE
材料的原因。此外，本文介绍了
XLPE
和
HPTE
的在线
和离线质量控制系统，在开工前对材料进行检查。
所提供的检查和分选系统检测污染的颗粒，并在进入挤出过
程之前将其分离。原料中可能存在污染，也可能在处理和运
输阶段产生污染。因此，即使电缆制造商继续使用筛网，该
技术可确保筛网不会被污染颗粒中的杂质堵塞，从而提供更
长且安全的生产运行周期。通过使用
X
射线和光学技术，检测
到颗粒内部和外部的污染物，这
100%
地保证了质量控制。利
用离线检查和分析系统甚至可以改进在线检测系统分离生产
过程中的污染颗粒。材料纯度可控，系统分析提供信息以防
止未来可能的污染。
结合以上所有优点，使用引进的技术进行
XLPE
和
HPTE
材料
的质量控制对于确保高质量的
MV
和
EHV
电缆至关重要。同
时，通过确保高纯度的
XLPE
和
HPTE
材料，也可以节省出重
新制造放电试验失败的电缆费用，这在很大程度上提高了电
缆生产线的效率。
参考文献
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