52 / 116
משלבת רוחב
IsoVU
טכנולוגית,
גיגה הרץ, תחום רחב של
1
סרט של
עם
Common Mode
מעולה
Common Mode Rejection
כדי להפוך סיגנלים שהיו קודם
חבויים לגלויים.
משתמשת
IsoVu
™
הפלטפורמה של
בחיישן אלקטרואופטי כדי להמיר אותות
נכנסים לאפנון אופטי תוך כדי בידוד חשמלי
של המערכת הנבדקת מאוסילוסקופ של
טקטרוניקס.
המערכת כוללת ארבעה לייזרים נפרדים,
חיישן אופטי, חמישה סיבים אופטיים
וטכניקת משוב ובקרה מתוחכמת. ראש
החיישן אשר מחובר לנקודת הבדיקה הוא
בעל בידוד חשמלי מוחלט ומופעל ע"י אחד
מהסיבים האופטיים. עשרה פטנטים של
יישומים נכתבו כדי לבצע את טכנולוגית
הבידוד מהאדמה.
יתרון קריטי של טכנולוגיה זו מציע
למתכננים, כמו אלו העובדים על התקני
פרוב אופטי למדידה
במשטחיםמבודדים
SiC
ו-
GaN
הספק שמערב טכנולוגיות של
מעולה וזה
common
mode
rejection
את
מאפשר לאותות שהיו קודם חבויים ברעש
להיות לראשונה גלויים.
common mode
של
(120
dB
מיליון )
1:1
מאפשר
IsoVu
( עד
CMRR
)
common mode
rejection
CMRR
(80
dB
) 10,000:1-
מגה הרץ ו
100-
ל
גיגה הרץ.
1-
ב
100-
לשם השוואה הפתרונות המתחרים ב
20
dB
CMRR
מגה הרץ מציעים בערך
טוב יותר.
100,000
פי
IsoVu
ומציבים את
APEC
"משובים חוזרים ממתכננים ב-
היו חיובים כאשר רבים מהם ניצבים בפני
זה אפשרי
IsoVu
צורך קריטי, באמצעות
כעת" אמר ארל תומפסון, סגן נשיא בכיר,
בטקטרוניקס.
Time
Domain
Business
"אין כרגע במערכות המדידה בשוק את
של רוחב פס רחב,
IsoVu
האפשרויות של
common
mode
וולט תחום של
2000
common
mode
ופריצת דרך של יחס
"
rejection
, מהנדסים יכולים למדוד
IsoVu
באמצעות
איסטרוניקס
במדויק אותות דיפרנציאליים קטנים
common
גם אם קיים מתח
)5mv-50v(
גיגה הרץ.
1
ממתח ישר עד
mode
הוא המוצר הראשון המאפשר
IsoVu
אגירת אות חשמלי כאשר יכולת למדוד
לא מפחית את רוחב
common mode
מתח
הפס.
דגמים של
6-
זמינה ב
IsoVu
טכנולוגית
, עם
TIVM
סדרת מערכת מדידה מבודדת
מגה הרץ
500 ,
מגה הרץ
200
רוחבי פס של
גיגה הרץ, ניתן לבחור סיב אופטי של
1-
ו
מטר
10
מטר. האופציה של
10
מטר או
3
סיב מאפשרת את אותם הביצועים של סיב
מטר סיב מאפשר
10-
מטר כאשר ה
3
באורך
למשתמשים להרחיק את מערכת הבדיקה
רחוק מההפרעות והקרינות הנפלטות
מאד
IsoVu
מהרכיב הנבדק. האופציה של
מתאימה ליישומים כמו בדיקה מרחוק
.
ובדיקת הפרעות אלקטרומגנטיות
עלויות חוזרות ליחידה אמורות להמשיך
עוברים
GaN
ולצלול בשעה שיותר יצרני
לממדי שבב גדולים יותר.
Test & Measurement
מוסף מיוחד
New-Tech Magazine l 52