New-Tech Magazine | Jan 2017 | Digital Edition

103 / 126

Components Communication Test&
Measurement
Power
Supply
Electro
Optics&Camera Motion Packaging &
Production
אינרציאליים המשלבת ביחד את האמינות
והדיוק עם החסינות בפני הלם ורעידות
בעקבה מופחתת. השילוב של עד ארבע
דרגות חופש בהתקן יחיד מאפשר למהנדסי
המערכת להקטין את ממדי יחידת הבקרה
electronic control unit –האלקטרונית )
( הדרושה במערכות אבטחת הרכב של ECU
היום.
מזעור מקורות שגיאה גדולים אלה הוא
קריטי למשימה לשם תכנון מערכות אבטחת
רכב יותר אמינות ומדויקות, דוגמת גילוי
Electronic Stability Control (ESC)ה-
. אלה בנויות על מערכות בקרת and rollover
שילדה הקיימות כבר בתוך הרכב, כולל
מערכת הבלימה נגד נעילה, בקרת הגרירה
(. תכנוני מערכות yawובקרת הסיבסוב )
כוללים לעתים קרובות rollover וגילוי ESC
שניים או יותר מדי-תאוצה וג'ירוסקופים,
המציעים לעתים קרובות פחות חסינות בפני
הלם ורעידות תוך עלות גבוהה וצורך של
יותר מקום על הכרטיס. משפחת החיישן-
מתגברת על האתגרים ADXC150x קומבו
החשובים הכרוכים בשילוב ג'ירוסקופ ומד-
תאוצה ברמת הרכב במארז יחיד. חיישני
דרגות 4 הקומבו החדשניים משלבים עד
(degrees of freedom –DOFחופש )
בתוך התקן יחיד, דבר שלא רק מקטין את
מספר הרכיבים והשילוב היקר והצורך זמן,
אלא גם משפר את דיוק ואמינות החישה
האינרציאלית. סחיפת ג'יירו הסיבסוב
)אופייני( 1deg/s-בטמפרטורה היא פחות מ
וחיישן הטמפרטורה הפנימי מכייל את
המוצא כדי לספק יציבות מצוינת בכל תחום
(. מוזן 1050C (- עד 400C טמפרטורת הרכב
Analog Devices על-ידי ההתחייבות של
כולל גם ADXC150x לבטיחות תפקודית, ה-
רוטינות חסינות-כשל אלקטרו-מכניות והוא
מנטר ברציפות את מצב ההתקן כדי להבטיח
את שלימות הנתונים.
לפרטים נוספים:
אנלוג מכשורים ישראל
09-7774300
בעל רזולוציה גבוהה, ADC SAR
Analog Devicesהספק נמוך של
מבטיח זמני בדיקה ומחזורי פיתוח
מוצרים קצרים יותר
הכריזה לאחרונה Analog Devices, Inc.
על דורחדששלממירםאנלוגייםלדיגיטליים
analog-to-digital converters)
( בעלי דיוק גבוה וקירוב רצוף -ADCs
(successive approximation – SAR)
המשלבים באופן ייחודי את התכונות
של ביצועים גבוהים, הספק נמוך, עקבה
קטנה וקלות בשימוש. מעגלים משולבים
אלה מאפשרים למכשירים ניידים לבדיקה
ומדידה לפעול במשכי זמן ארוכים יותר
במהלך בדיקות שדה תוך שיפור דיוק
והדירות המדידה. ההתקן החדש תומך
גם בפיתוח מכשירים קטנים יותר, שניתן
למקם קרוב יותר לחיישנים שיש למדוד,
או במספר גדל של ערוצי איסוף נתונים
באותו גורם צורה. מכשיר בעל מאפיינים
אלה יחזק את יעילות בדיקות השדה ויקטין
את העלויות הכרוכות עם זמן האפיון של
מצור חדש.
הביצועים הגבוהים וקלות השימוש של
ביט, 2-MSPS, 18- בעל AD4003ה-
ביט מקלים 4000AD SAR ADC 16-וה-
בהרבה על מאמצי מתכנני המערכת
המצווים להשיג ביצועים מיטביים בתכנוני
איסוף נתונים תוך מחזור תכנון קצר יותר,
וללא צורך לעשות פשרות קשות לעתים
וסותרות. תכונות כגון מצב עכבת מבוא
גבוהה ודחיסת מיפתח מקטינות את
ADCהאתגר הכרוך בדרגת ההזנה של ה-
ומגדילות את הגמישות של בחירת
המגבר. מצב עכבת המבוא הגבוהה
מאפשר שימוש במגברי דיוק נמוכי-הספק
, ומקטין את ADCכדי להזין ישירות את ה-
הדרישות של הספק שרשרת-האותות.
בנוסף, ההגנה בפני מתח-יתר הפנימית
מבטלת את הצורך בהתקני הגנה חיצוניים,
ודחיסת המפתח מאפשרת לדרגת הזנת
לפעול מאותו פס הספקה כמו ADCה-
, ומפשטת בכך את ניהול ההספק. ADCה-
שילוב זה תומך בצפיפות ערוצים מוגדלת,
תוך הפחתת דרישות ההספק ברמת
המערכת, מבלי לסכן את הביצועים.
ADCs SAR כוללת AD400xסדרת ה-
ביט עם אופציות מהירות 16 ו-20-, 18-
.2MSPS עד 500kSPSמ-
לפרטים נוספים:
אנלוג מכשורים ישראל
09-7774300
וירט אלק' שוב מפתיעה:
USB 3.1 עם
ואספקת מתח 5Gb/s במקום10Gb/s
החדש USB-3.1 וולט - תקן 20 של עד
הוא צעד חשוב קדימה בפיתוח שיפתח
Wurth Elektronikהמון יישומים חדשים
eiSos
זמנים עכשיו מחברים,שקעים וכבלים.
לפרטים נוספים:
איש קשר: ניר אלישע
050-3993007נייד :
Common mode chock
משמש כמסנן Common Mode Choke
כדי להנחית הפרעות תדר בפס רחב. וירט
לזרם גבוה עם CMC אלקטרוניק פיתחה
ליבת ננו קריסטל למטרה זו. משפחת המוצר
החדש עשוי עם תכונות WE-CMBNC
הנחתה בפס רחב. בהשוואה עם הליבות
הקונבנציונאליות העשוים מחומרים ליבה
, לתכונות הליבות מסוג ננו NiZn ו-MnZn
! דבר 20 קריסטל יש חדירות יותר מפי
המאפשר הנחתה בפס רחב, גם בתחום
תדרי קילו - הרצים בודדים. אפילו בתדרים
גבוהים, מעל מאה מגה הרץ, רמות גבוהות
של הנחתה יכולה להיות מושגת בשל קיבול
נמוך בין הכריכות. בנוסף טמפרטורת הקורי
PUSHגבוהה פי שלושה כך שהפרעות מסוג
אינן מכניסות לסטורציה את הרכיב. PULL
זמינה WE-CMBNC כל משפחת המוצר
במלאי. דוגמאות הינם זמינים על פי בקשה.
ערכות פיתוח זמינות עבור מפתחים ומעבדות
103 l New-Tech Magazine