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EuroWire – Marzo de 2012
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Artículo técnico
de barreras para evitar la entrada de agua
en el cable, como blindajes de metal y
conductores trenzados rellenos o usando
materiales aislantes y semiconductores
que hayan demostrado que retardan
significativamente el crecimiento de las
arborescencias acuosas. Esto se puede
ver en cables envejecidos en campo o en
condiciones de envejecimiento acelerado
en laboratorio.
Los protocolos para el ensayo acelerado
de arborescencias acuosas AWTT (
Water
Treeing Test
) como los que se encuentran
en
las
especificaciones
industriales
DL/T-1070-2007 de China e ICEA S-94-649
fueron establecidos para hacer una
distinción entre los aislamientos de XLPE,
TR-XLPE y los materiales de blindaje
semiconductores en condiciones de
envejecimiento acelerado.
Expectativa de vida
de los cables en la
Red Eléctrica Estatal
de China
Actualmente hay más de 100.000Km
de cables de distribución subterráneos
(10-35kV) instalados en las ciudades
principales de la asociación de las
naciones del sureste asiático (ASEAN).
Aunque las técnicas de diseño y
fabricación
están
normalizadas,
la
fiabilidad y la expectativa de vida de
los cables de distribución pueden
variar mucho dependiendo del tipo de
materias primas utilizadas y la calidad de
fabricación e instalación de los cables.
En un intento por mejorar los estándares,
la Corporación Estatal de Red Eléctrica
de China (SGCC) ahora exige una
expectativa de vida de 30 años para los
cables de distribución de 10-35kV en
condiciones de funcionamiento normales.
Aunque existe la especificación para
cables con 30 años de expectativa de vida,
hasta ahora no se ha especificado ningún
método de prueba que garantice que los
cables comprados cumplan efectivamente
dicho requisito.
Especies iónicas
DL/T 1070-2007 A.3.3 Importados
P1
P2
Aluminio
<6
1.3
5
4
Calcio
<3
0,4
200
70
Hierro
<3
2
15
15
Potasio
<3
<0,5
155
85
Magnesio
<15
<0,5
25
30
Silicio
<4
1
15
25
Cinc
<3
<0,5
885
785
Ceniza
<100
<50
2750
2950
▼
▼
Tabla 2
:
Comparación de especies iónicas y niveles de ceniza (en 1x10-6) entre diferentes compuestos de blindaje semiconductores
Rigidez dieléctrica de ruptura en CA
(kV/min)
No envejecidos Sometidos a ciclos de carga
Rigidez dieléctrica de ruptura en CA
(kV/min)
120 días 180 días 360 días
▲
▲
Figura 3
:
(abajo) muestra los valores ACBD de cables no envejecidos y cables sometidos a ciclos de carga antes de
realizar el ensayo AWTT. Los valores ACBD no envejecidos eran respectivamente 35,0 y 40,2KV/mm para los cables A
y B. Los valores ACBD con ciclo de carga eran respectivamente 38,1 y 39,7KV/mm para los cables A y B
▲
▲
Figura 4
:
Comparación entre valores ACBD después del ensayo AWTT
Las normas para cables típicas, como
la IEC60502, sólo ofrecen directrices
para las especificaciones de cables
nuevos y estos requisitos no garantizan
la expectativa de vida de los cables. En
Dow Electrical and Telecommunications